Наименование проекта:
Создание системы контроля микрорельефа поверхностей деталей машин в производственных условиях
Аннотация:
Получение качественных данных микрорельефа поверхности возможно с использованием бесконтактного, оптического метрологического контроля непосредственно на станке с возможностью введения коррекции по замеренным параметрам шероховатости поверхности. В связи с этим, разработка и создание прибора, позволяющего бесконтактно контролировать показатели шероховатости является актуальной задачей, решение которой, способствует повышение технологичности и конкурентоспособности изделия
Основное направление:
27.04.01, Стандартизация и метрология (Технология контроля и управления качеством продукции)
Сроки исполнения:
01.09.2016 - 30.06.2018
Результат проекта:
Не указано
Краткая характеристика продукта, основные технико-экономические параметры:
Компактный опто-электронный прибор для контроля высотных параметров микропрофиля поверхности в диапазоне Ra =0,4...6,3 мкм, допускающий выполнение измерений в условиях действующего производства.
Ресурсное обеспечение проекта:
оборудование кафедры ТМС
Степень предварительной проработки проблемы:
идея проекта
Выходы (отчетность по проекту):
Не указано
Критерии оценки успешности проекта (целевые показатели):
Диапазон измерений Ra=0,4...6,3 мкм; время измерений до 40 сек.; достоверность не ниже 95%
Тип проекта (по содержанию):
Не указано
Тип проекта (по количеству участников):
Индивидуальный
Тип проекта (по охвату):
Многопредметный
Тип проекта (по длительности):
4 семестра
Отрасль внедрения результатов проекта:
Не указано
Целевые группы проекта
механообрабатывающие производства оснащенные оборудованием с ЧПУ
Руководитель:
Чигиринский Юлий Львович, профессор, кафедра «Технология машиностроения»
Консультант (консультанты) проекта
Медников С.В. - кафедра Физики; Фролов Е.М. - кафедра ТМС
Куратор проектной деятельности
Крайнев Д.В.
Заказчик проекта:
инициативный проект =>
